A63.7081 שוטקי אקדח פליטת שדה סריקת מיקרוסקופ אלקטרונים פרו FEG SEM, 15x ~ 800000x
תיאור מוצר
| A63.7081 אקדח פליטת שדה שוטקי מיקרוסקופ אלקטרונים סורק Pro FEG SEM | ||
| פתרון הבעיה | 1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE) | |
| הַגדָלָה | 15x ~ 800000x | |
| אקדח אלקטרונים | אקדח פליטה אלקטרוני של שוטקי | |
| זרם אלומת אלקטרונים | 10pA ~ 0.3μA | |
| האצת ההצבעה | 0 ~ 30KV | |
| שואב אבק | 2 משאבות יון, משאבה טורבו מולקולרית, משאבה מכנית | |
| גַלַאִי | SE: גלאי אלקטרונים משני ואקום גבוה (עם הגנת גלאים) | |
| BSE: גלאי פיזור גב למוליכים למחצה ארבעה פלחים | ||
| CCD | ||
| שלב הדגימה | חמשת צירים שלב ממונע אוצנטרי | |
| טווח נסיעה | X | 0 ~ 150 מ"מ |
| Y | 0 ~ 150 מ"מ | |
| Z | 0 ~ 60 מ"מ | |
| R | 360 מעלות | |
| T | -5º ~ 75º | |
| קוטר הדגימה המרבי | 320 מ"מ | |
| שינוי | EBL; STM; AFM; שלב חימום; שלב קריו; שלב מתיחה; מניפולטור מיקרו-ננו; SEM + מכונת ציפוי; SEM + וכו 'לייזר | |
| אביזרים | גלאי רנטגן (EDS), EBSD, CL, WDS, מכונת ציפוי וכו '. | |
יתרון ומקרים
| מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (sem) מתאים לתצפית על טופוגרפיית השטח של מתכות, קרמיקה, מוליכים למחצה, מינרלים, ביולוגיה, פולימרים, מרוכבים וחומרים חד-ממדיים, דו-ממדיים ותלת-ממדיים בקנה מידה ננו (תמונת אלקטרונים משנית, תמונה אלקטרונית מפוזרת אחורה). ניתן להשתמש בו כדי לנתח את רכיבי הנקודה, הקו והמשטח של המיקרו-אזור. הוא נמצא בשימוש נרחב בנפט, גיאולוגיה, שדה מינרלים, אלקטרוניקה, שדה מוליכים למחצה, רפואה, שדה ביולוגיה, תעשייה כימית, שדה חומר פולימרי, חקירה פלילית של ביטחון הציבור, חקלאות, ייעור ותחומים אחרים. |
מידע על החברה
כתוב כאן את המסר שלך ושלח אלינו
